H２０年２月１０日東京コンファレンスセンター品川５階にて第二回CERECフォーラムが開催されました。

私はCEREC Double Scan Technique for Implant's Superstructureを発表して参りました。
インプラント上部構造をクラウンとアンレーの二重構造として、歯肉縁下のセメントの残留をなくし、アクセスホールをアンレー形態とし審美および咬合を理想的な状態に保つ事を目的としております。
会場の先生や歯科技工士の方々から多くの質問を頂きまして、私も改めて教えて頂いた事も多く感謝しております。
記念講演で日吉歯科診療所熊谷先生の「歯科医師のニューパラダイムシフト」は今後の多くの歯科医師が目指す目標ではないかと感じ取りました。
私も、自分自身を改革する必要がありそうです。